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ISSN 0544-1269 (Print)
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关键字 Förster effect bipolar transistor diagnostics etching gas temperature ionization kinetics magnetron sputtering mechanism memristor modeling molecular beam epitaxy plasma polymerization powerful LDMOS quantum dot reduced electric field strength resistive switching silicon silicon-on-insulator technology specific power
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卷 54, 编号 4 (2025)

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卷 54, 编号 4 (2025)

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ЛИТОГРАФИЯ

期 标题 文件
卷 54, 编号 4 (2025) Perspectives of electron-beam and ion-beam lithography development in Russia PDF
(Rus)
Zaitsev S., Irzhak D., Il’in A., Knyazev M., Roshchupkin D., Grachev V., Kurbatov V., Malkov G.
卷 54, 编号 1 (2025) Investigation of double patterning method with the usage of antispacer PDF
(Rus)
Tikhonova E., Gornev E.
卷 53, 编号 5 (2024) New concept for the development of high-performance X-ray lithography PDF
(Rus)
Chkhalo N.
卷 52, 编号 5 (2023) Protective Freely Hanging Films for Projection Lithography Installations in the Extreme UV Range PDF
(Rus)
Zuev S., Lopatin A., Luchin V., Salashchenko N., Tsybin N., Chkhalo N.
卷 52, 编号 2 (2023) Cross Sections of Scattering Processes in Electron-Beam Lithography PDF
(Rus)
Rogozhin A., Sidorov F.
1 - 5 的 5 信息
 


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