Empirical estimation of the frequency’s domain of susceptibility of electronic devices by the method of the striking electromagnetic influence

Мұқаба

Дәйексөз келтіру

Толық мәтін

Ашық рұқсат Ашық рұқсат
Рұқсат жабық Рұқсат берілді
Рұқсат жабық Тек жазылушылар үшін

Аннотация

Problem of immunity of the electronic devices under powerful electromagnetic emission as well as mechanism of device response at out-of-band emission influence are discussed. Parameters which characterize level of emission influence on device are indicated. The method of the empirical estimation of threshold level of these parameters, which characterize immunity of device under the influence of ultra-wideband (UWB) emission is proposed.

Авторлар туралы

V. Ostashev

Joint Institute for High Temperatures of Russian Academy of Scientist

Хат алмасуға жауапты Автор.
Email: ostashev@ihed.ras.ru
Ресей, Izhorskaya str., 13, bilding 2, Moscow, 125412

A. Ulyanov

Joint Institute for High Temperatures of Russian Academy of Scientist

Email: ostashev@ihed.ras.ru
Ресей, Izhorskaya str., 13, bilding 2, Moscow, 125412

Әдебиет тізімі

  1. Foster J.S., Jr., Gjelde E., Graham W.R. et al. Report of the Commission to Assess the Threat to the United States from Electromagnetic Pulse (EMP) Attack. Critical National Infrastructures.Bernan, 2008. 218 p. http://www.empcommission.org/docs/A2473-EMP_Commission-7MB.pdf
  2. Camp M., Garbe H., Nitsch D. // IEEE Intern. Symp. on EMC. Minneapolis. 19–23 Aug. 2002. N.Y.: IEEE, 2002. P. 87.
  3. Вдовин В.А., Кулагин В.В., Черепенин В.А. // Электромагнитные волны и электрон. системы. 2003. Т. 8. № 1. С. 64.
  4. Bäckström M.G., Lövstrand K.G. // IEEE Trans. 2004. V. EMC-46. № 3. P. 396.
  5. Nitsch D., Camp M., Sabath F. et.al. // IEEE Trans. 2004. V. EMC-46. № 3. P. 380.
  6. Тяпин М.С., Мырова Л.О. // Информ. и телекоммун. технологии. 2006. № 2. С. 20.
  7. Baum C.E. // IEEE Trans. 2007. V. EMC-49. № 2. P. 211.
  8. Добыкин В.Д., Куприянов А.И., Пономарев В.Г., Шустов Л.Н. Радиоэлектронная борьба. Силовое поражение радиоэлектронных систем. М.: Вузовская книга, 2007.
  9. Бобрешов А.М., Дыбой А.В., Коровченко И.С. и др. // Физика волновых процессов и радиотехнические системы. 2008. Т. 11. № 3. С. 60.
  10. Симакин С.В., Ларионенко А.В. // Технологии ЭМС. 2009. № 3. С. 23.
  11. Hwang S.M., Hong J.I., Han S.-M. // J. Electromagn. Waves Appl. 2010. V. 24. № 8. P. 1059.
  12. Добыкин В.Д. // РЭ. 2011. Т. 56. № 2. С. 236.
  13. Ключник А.В., Пирогов Ю.А., Солодов А.В. // Журн. радиоэлектроники (электрон. журн.). 2013. № 1. http://jre.cplire.ru/jre/yan13/18/text.pdf
  14. Усыченко В.Г., Сорокин Л.Н. Стойкость сверхвысокочастотных радиоприемных устройств к электромагнитным воздействиям. М.: Радиотехника, 2017.
  15. Здухов Л.Н., Парфенов Ю.В., Тарасов О.А., Чепелев В.М. // Технологии ЭМС. 2018. № 2. С. 22.
  16. Toan N.V., Tung D.M., So J., Lee J.-G. // Adv. Electrical and Computer Engineering. 2019. V. 19. № 2. P. 37.
  17. Осташев В.Е., Ульянов А.В. // Журн. радиоэлектроники (электрон. журн.). 2019. № 2. http://jre.cplire.ru/jre/feb19/13/text.pdf
  18. ГОСТ Р 51317.2.5–2000. “Совместимость технических средств электромагнитная”. М.: Изд-во стандартов, 2001.
  19. Electromagnetic Environmental Effects Requirements for Systems. Department of defense interface standard MIL-STD-464C. Washington, 2010. 165 p. https://www.ema3d.com/wp-content/uploads/downloads/MIL-STD-464C.pdf
  20. ГОСТ 26883–86. Внешние воздействующие факторы. Термины и определения. М.: Стандартинформ, 2008.
  21. Осташев В.Е., Ульянов А.В. // Технологии ЭМС. 2018. № 4. С. 57.
  22. Баскаков С.И. Радиотехнические цепи и сигналы. М.: Высш. школа, 1983.
  23. Осташев В.Е., Ульянов А.В., Федоров В.М. // РЭ. 2020. Т. 65. № 3. С. 234.
  24. Осташев В.Е., Ульянов А.В. // РЭ. 2021. Т. 66. № 11. С. 1.

Қосымша файлдар

Қосымша файлдар
Әрекет
1. JATS XML
Жүктеу

© Russian Academy of Sciences, 2024