Informaçao sobre o Autor
Усыченко, В. Г.
| Edição | Seção | Título | Arquivo |
| Volume 68, Nº 12 (2023) | ФИЗИЧЕСКИЕ ПРОЦЕССЫ В ЭЛЕКТРОННЫХ ПРИБОРАХ | Dependence of Reversible and Irreversible Failures of Semiconductor Devices on the Repetition Rate of Powerful Pulse Electromagnetic Interference |